介電常數(shù)測試儀應(yīng)用范圍和介紹
應(yīng)用范圍:
測量絕緣材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗系數(shù)(介質(zhì)損耗角正切值)
技術(shù)參數(shù):
序號 | 項(xiàng)目 | 參數(shù) |
1 | 信號源 | DDS數(shù)字合成 10KHZ-70MHz |
2 | 調(diào)諧電容 | 主電容30-500PF |
3 | 調(diào)諧電容誤差和分辨率 | ±1.5P或<1%< p=""> |
4 | Q測量范圍 | 1-1000自動/手動量程 |
5 | Q測量工作誤差 | <5%< p=""> |
6 | Q分辨率 | 4位有效數(shù),分辨率0.1 |
儀器自動扣除殘余電感和測試引線電感。大幅提高測量精度。
大電容值直接測量顯示。
參照標(biāo)準(zhǔn):ASTM D150-11實(shí)心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率(介電常數(shù))的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法;
GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法;
GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法;
GBT5594.4-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法第4部分:介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測試方法;
GB/T 1693-2007、ASTM D150-11、GB/T1409-2006、GBT5594.4-2015介電性能測試儀 GB/T 1693 ASTM D150是各種金屬氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物質(zhì)的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)。通過測定可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù)。該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機(jī)金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
產(chǎn)品介紹:
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種金屬氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物質(zhì)的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)。通過測定可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù)。該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機(jī)金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
介電常數(shù)測試儀術(shù)語
定義:
這些試驗(yàn)方法所用術(shù)語定義以及電絕緣材料相關(guān)術(shù)語定義見術(shù)語標(biāo)準(zhǔn)D1711。
本標(biāo)準(zhǔn)專用術(shù)語定義:
電容,C,名詞——當(dāng)導(dǎo)體之間存在電勢差時,導(dǎo)體和電介質(zhì)系統(tǒng)允許儲存電分離電荷的性能。
討論——電容是指電流電量 q與電位差V之間的比值。電容值總是正值。當(dāng)電量采用庫倫為單位,電位采用伏特為單位時,電容單位為法拉,即:
C=q/V ?。?)
耗散因子(D),(損耗角正切),(tanδ),名詞——是指損耗指數(shù)(K'')與相對電容率(K')之間的比值,它還等于其損耗角(δ)的正切值或者其相位角(θ)的余切值(見圖1和圖2)。
D=K''/K' (2)
4 相關(guān)ASTM標(biāo)準(zhǔn),ASTM標(biāo)準(zhǔn)手冊卷次信息,可參見ASTM網(wǎng)站標(biāo)準(zhǔn)文件匯總。
5 該歷史標(biāo)準(zhǔn)的較后批準(zhǔn)版討論——a:
D=tanδ=cotθ=Xp/Rp=G/ωCp=1/ωCpRp (3)
式中:
G=等效交流電導(dǎo),
Xp=并聯(lián)電抗,
Rp=等效交流并聯(lián)電阻,
Cp=并聯(lián)電容,
ω=2πf(假設(shè)為正弦波形狀)
耗散因子的倒數(shù)為品質(zhì)因子Q,有時成為儲能因子。對于串聯(lián)和并聯(lián)模型,電容器耗散因子D都是相同的,按如下表示為:
D=ωRsCs=1/ωRpCp (4)
串聯(lián)和并聯(lián)部分之間的關(guān)系滿足以下要求:
Cp=Cs/(1 D2) (5)
Rp/Rs=(1 D2)/D2=1 (1/D2)=1 Q2 (6)