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低電阻率測試儀

型 號BEST-300C

更新時間2023-08-10

廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家

報價

產(chǎn)品描述:低電阻率測試儀是用來表示各種物質(zhì)電阻特性的物理量。某種材料制成的長1米、橫截面積是1平方毫米的在常溫下(20℃時)導線的電阻,叫做這種材料的電阻率。電阻率的單位是歐姆米(Ω?m或ohmm),常用單位是歐姆毫米和歐姆米。定義在溫度一定的情況下,有公式r=ρl/s其中的ρ就是電阻率,l為材料的長度,s為面積。

產(chǎn)品概述

低電阻率測試儀定義:

 
  電阻率是用來表示各種物質(zhì)電阻特性的物理量。某種材料制成的長1米、橫截面積是1平方毫米的在常溫下(20℃時)導線的電阻,叫做這種材料的電阻率。電阻率的單位是歐姆米(Ω?m或ohmm),常用單位是歐姆毫米和歐姆米。定義在溫度一定的情況下,有公式r=ρl/s其中的ρ就是電阻率,l為材料的長度,s為面積。可以看出,材料的電阻大小與材料的長度成正比,而與其截面積成反比。電阻率(resistivity)是用來表示各種物質(zhì)電阻特性的物理量。在溫度一定的情況下,有公式r=ρl/s其中的ρ就是電阻率,l為材料的長度,s為面積??梢钥闯?材料的電阻大小與材料的長度成正比,即在材料和橫截面積不變時,長度越長,材料電阻越大:而與材料橫截面積成反比,即在材料和長度不變時,橫截面積越大,電阻越小。由上式可知電阻率的定義:ρ=rs/l推導公式:r=ρv/(s^2)r=ρ(l^2)/v應用電阻率較低的物質(zhì)被稱為導體,常見導體主要為金屬,而自然界中導電性最佳的是銀,其次為半導體,硅鍺。當存在外電場時,金屬的自由電子在運動中不斷和晶格節(jié)點上做熱振子的正離子相碰撞,使電子運動受到阻礙,因而就具有了一定的電阻。其他不易導電的物質(zhì)如玻璃、橡膠等,電阻率較高,一般稱為絕緣體。介于導體和絕緣體之間的物質(zhì)(如硅)則稱半導體。




參數(shù):

  1. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定)

直 徑:圓測試臺直接測試方式 Φ15~130mm,手持方式不限

方測試臺直接測試方式 180mm×180mm,手持方式不限. 長(高)度: 測試臺直接測試方式 H≤100mm, 手持方式不限.

BEST-300C 測試儀能夠測量半導體材料體電阻率ρ、方塊電阻(薄片電阻率)R 口

以及體電阻 R,測量時需調(diào)整相應的修正系數(shù)和選擇相應的功能。

本產(chǎn)品不但提供了電阻率ρ、方塊電阻 R 口以及體電阻 R 測試的基本修正系數(shù)設定, 還提供了產(chǎn)品厚度 G、外形和測試位置的修正系數(shù) D 設定,極大的提高了測試精度。測試類別的快捷選擇方式,方便了用戶同時測試多個參數(shù),提高測試效率。整機測量最大相對誤差:≤±3%;整機測量標準不確定度:≤±3%四位半顯示讀數(shù);八量程自動或手動測試;范圍寬: 電阻:10-4Ω~105Ω ;方阻:10-4Ω/□~105Ω/□;正反向電流源修正測量電阻誤差恒流源:電流量程分為: 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六檔;儀器配有恒流源開關可有效保護被測件,即先讓探針頭壓觸在被測材料上,后開恒流源開關,避免接觸瞬間打火。為了提高工作效率,如探針帶電壓觸單晶對材料及測量并無影響時,恒流源開關可一直處于開的狀態(tài)??膳浜隙喾N探頭進行測試;也可配合多種測試臺進行測試。校正功能:可手動或自動選擇測試量程 全量程自動清零。厚度可預設,自動修正樣品的電阻率,無需查表即可計算出電阻率自動進行電流換向,并進行正反向電流下的電阻率(或方塊電阻)測量,顯示平均值.測薄片時,可自動進行厚度修正。雙電測測試模式,測量精度高、穩(wěn)定性好.具備溫度補償功能,修正被測材料溫漂帶來的測試結果偏差。比較器判斷燈直接顯示,勿需查看屏幕,作業(yè)效率得以提高。

3檔分選功能:超上限,合格,超下限,可對被測件進行HI/LOW判斷,可直接在LCD使用標志顯示;也可通過USB接口、RS232接口輸出更為詳細的分選結果。測試模式:可連接電腦測試、也可不連接電腦單機測試。接口,Handler接口、RS232接口、USB HOST、USB DEVICE。實現(xiàn)遠程控制。U盤可記錄測試數(shù)據(jù)軟件功能(選配):軟件可記錄、保存、各點的測試數(shù)據(jù);可供用戶對數(shù)據(jù)進行各種數(shù)據(jù)分

在設定模式下(設定完畢,保存好數(shù)據(jù)后),選擇測量類別(電阻率ρ、方塊電阻

(薄片電阻率)R 口或體電阻 R 中三選一,切換儀器到“測量"模式,窗口左側(cè)“測量" 模式燈亮。電阻測量,注意良好接觸,電壓測試端在內(nèi)側(cè);半導體參數(shù)測試,將探針與樣品良好接觸,注意壓力要適中;由數(shù)字顯示窗直接讀出測量值。

注意!測量狀態(tài)中,電流量程默認為自動方式,也可調(diào)整為手動方式,手動方式下, 電流量程適合的,儀器會穩(wěn)定顯示數(shù)據(jù),電流量程不適合的會給出超量程或欠量程閃爍提示,對于超量程,說明電流過大,要調(diào)到較小電流檔;對于欠量程,說明電流過小, 要調(diào)到較大電流檔。

微信圖片_20210909083952.jpg


低電阻率測試儀注意事項:

  1 使用前務必詳閱此說明書,并遵照指示步驟,依次操作。
  2 請勿使用非原廠提供之附件,以免發(fā)生危險。
  3 進行測試時,本儀器測量端高壓輸出端上有直流高壓輸出,嚴禁人體接觸,以免觸電。
  4 為避免測試棒本身絕緣泄漏造成誤差,接儀器測量端輸入的測試棒應盡可能懸空,不與外界物體相碰。
  5 當被測物絕緣電阻值高,且測量出現(xiàn)指針不穩(wěn)現(xiàn)象時,可將儀器測量線屏蔽端夾子接上。例如:對電纜測纜芯與纜殼的絕緣時,除將被測物兩端分別接于輸入端與高壓端,再將電纜殼,芯之間的內(nèi)層絕緣物接儀器 “G",以消除因 表面漏電而引起的測量誤差。也可用加屏蔽盒的方法,即將被測物置于金屬屏蔽盒內(nèi),接上測量線。





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