直流低電阻率測(cè)試儀
產(chǎn)品描述:直流低電阻率測(cè)試儀是用來(lái)表示各種物質(zhì)電阻特性的物理量。某種材料制成的長(zhǎng)1米、橫截面積是1平方毫米的在常溫下(20℃時(shí))導(dǎo)線的電阻,叫做這種材料的電阻率。電阻率的單位是歐姆米(Ω?m或ohmm),常用單位是歐姆毫米和歐姆米。定義在溫度一定的情況下,有公式r=ρl/s其中的ρ就是電阻率,l為材料的長(zhǎng)度,s為面積。
產(chǎn)品概述
直流低電阻率測(cè)試儀定義:
電阻率是用來(lái)表示各種物質(zhì)電阻特性的物理量。某種材料制成的長(zhǎng)1米、橫截面積是1平方毫米的在常溫下(20℃時(shí))導(dǎo)線的電阻,叫做這種材料的電阻率。電阻率的單位是歐姆米(Ω?m或ohmm),常用單位是歐姆毫米和歐姆米。定義在溫度一定的情況下,有公式r=ρl/s其中的ρ就是電阻率,l為材料的長(zhǎng)度,s為面積。可以看出,材料的電阻大小與材料的長(zhǎng)度成正比,而與其截面積成反比。電阻率(resistivity)是用來(lái)表示各種物質(zhì)電阻特性的物理量。在溫度一定的情況下,有公式r=ρl/s其中的ρ就是電阻率,l為材料的長(zhǎng)度,s為面積??梢钥闯?材料的電阻大小與材料的長(zhǎng)度成正比,即在材料和橫截面積不變時(shí),長(zhǎng)度越長(zhǎng),材料電阻越大:而與材料橫截面積成反比,即在材料和長(zhǎng)度不變時(shí),橫截面積越大,電阻越小。由上式可知電阻率的定義:ρ=rs/l推導(dǎo)公式:r=ρv/(s^2)r=ρ(l^2)/v應(yīng)用電阻率較低的物質(zhì)被稱(chēng)為導(dǎo)體,常見(jiàn)導(dǎo)體主要為金屬,而自然界中導(dǎo)電性最佳的是銀,其次為半導(dǎo)體,硅鍺。當(dāng)存在外電場(chǎng)時(shí),金屬的自由電子在運(yùn)動(dòng)中不斷和晶格節(jié)點(diǎn)上做熱振子的正離子相碰撞,使電子運(yùn)動(dòng)受到阻礙,因而就具有了一定的電阻。其他不易導(dǎo)電的物質(zhì)如玻璃、橡膠等,電阻率較高,一般稱(chēng)為絕緣體。介于導(dǎo)體和絕緣體之間的物質(zhì)(如硅)則稱(chēng)半導(dǎo)體。
直流低電阻率測(cè)試儀注意事項(xiàng):
1 使用前務(wù)必詳閱此說(shuō)明書(shū),并遵照指示步驟,依次操作。
2 請(qǐng)勿使用非原廠提供之附件,以免發(fā)生危險(xiǎn)。
3 進(jìn)行測(cè)試時(shí),本儀器測(cè)量端高壓輸出端上有直流高壓輸出,嚴(yán)禁人體接觸,以免觸電。
4 為避免測(cè)試棒本身絕緣泄漏造成誤差,接儀器測(cè)量端輸入的測(cè)試棒應(yīng)盡可能懸空,不與外界物體相碰。
5 當(dāng)被測(cè)物絕緣電阻值高,且測(cè)量出現(xiàn)指針不穩(wěn)現(xiàn)象時(shí),可將儀器測(cè)量線屏蔽端夾子接上。例如:對(duì)電纜測(cè)纜芯與纜殼的絕緣時(shí),除將被測(cè)物兩端分別接于輸入端與高壓端,再將電纜殼,芯之間的內(nèi)層絕緣物接儀器 “G",以消除因 表面漏電而引起的測(cè)量誤差。也可用加屏蔽盒的方法,即將被測(cè)物置于金屬屏蔽盒內(nèi),接上測(cè)量線。
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